Thickness-dependent electronic structure of ultrathin SrRuO_3 films studies by in situ photoemission spectroscopy
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原位光电子能谱研究超薄SrRuO_3薄膜的厚度相关电子结构
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Daisuke Toyota
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A.Okumura;et. al.;Masaki Kobayashi;Hiroshi Kumigashira;Kazuaki Ebata;Makoto Hashimoto;Koji Maekawa;Masaru Takizawa;Hiroki Wadati;Kazuaki Ebata;Hiroki Wadati;Masaru Takizawa;Hiroki Wadati;Daisuke Toyota
