I.Takahashi 他: "X-ray diffraction evidence for epitaxial microcrystallinity in thermally oxidized SiO_2 thin films on the Si(001)surface" J.Phys.:Condens Matter. 5. 6525-6536 (1993)
I.Takahashi 他: "X-ray diffraction evidence for epitaxial microcrystallinity in thermally oxidized SiO_2 thin films on the Si(001)surface" J.Phys.:Condens Matter. 5. 6525-6536 (1993)
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I. Takahashi 等人：“Si(001) 表面热氧化 SiO_2 薄膜中外延微晶的 X 射线衍射证据”J.Phys.：Condens Matter。5. 6525-6536 (1993)
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