Scanning Tunneling Microscopy and Battier-Height Imaging of Subsurface Dopants on GaAs(110)
Scanning Tunneling Microscopy and Battier-Height Imaging of Subsurface Dopants on GaAs(110)
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GaAs(110) 表面下掺杂剂的扫描隧道显微镜和巴蒂尔高度成像
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A.Sakai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Kobayashi;S.Kurokawa;A.Sakai
