K.Nakamae: "Test-Process Evaluation in LSI manufacturing-ATE planning effects on the total LSI manufacturing costs" IEEE Design & Tset of Computers. 発表予定).
K.Nakamae: "Test-Process Evaluation in LSI manufacturing-ATE planning effects on the total LSI manufacturing costs" IEEE Design & Tset of Computers. 発表予定).
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K. Nakamae：“LSI 制造中的测试过程评估 - ATE 规划对 LSI 制造总成本的影响”IEEE Design & Tset of Computers（待提交）。
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