M.Yamashita, T.Kiwa, 他2名: "Ebaluation of Spatial Resolution in Laser-Terahertz Emission Microscope for Inspecting Electrical Faults in Integrated Circuit"Proc.SPIE, Terahertz aand Gigahertz Electronics and Photonics III. 5354(in press). (2004)
M.Yamashita, T.Kiwa, 他2名: "Ebaluation of Spatial Resolution in Laser-Terahertz Emission Microscope for Inspecting Electrical Faults in Integrated Circuit"Proc.SPIE, Terahertz aand Gigahertz Electronics and Photonics III. 5354(in press). (2004)
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M.Yamashita、T.Kiwa 和其他 2 人：“用于检查集成电路电气故障的激光太赫兹发射显微镜的空间分辨率评估”Proc.SPIE，太赫兹 a 和千兆赫电子与光子学 III 2004 年。 ）
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