Degradation Characteristics of Proton Irradiated 8T CMOS Image Sensor
Degradation Characteristics of Proton Irradiated 8T CMOS Image Sensor
复制标题
质子辐照 8T CMOS 图像传感器的退化特性
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Qi Guo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Jing Fu;Yudong Li;Jie Feng;Lin Wen;Qi Guo
