Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Weilie Zhou;Z. Wang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Weilie Zhou;Z. Wang
扫描电子显微镜基础。-纳米材料表征中的背散射探测器和EBSD。-纳米材料中的X射线微观分析。-低千伏扫描电子显微镜。-电子束纳米光刻技术与扫描电子显微镜相结合。-扫描透射电子显微镜用于纳米结构表征。-纳米材料工程中的原位纳米操纵。-纳米线和碳纳米管。-光子晶体和器件。-纳米粒子和胶体自组装。-通过模板制造纳米积木。-一维纤锌矿半导体纳米结构。-生物启发纳米材料。-低温-纳米结构研究中的温度阶段。
Fundamentals of Scanning Electron Microscopy (SEM).- Backscattering Detector and EBSD in Nanomaterials Characterization.- X-ray Microanalysis in Nanomaterials.- Low kV Scanning Electron Microscopy.- E-beam Nanolithography Integrated with Scanning Electron Microscope.- Scanning Transmission Electron Microscopy for Nanostructure Characterization.- to In-Situ Nanomanipulation for Nanomaterials Engineering.- Applications of FIB and DualBeam for Nanofabrication.- Nanowires and Carbon Nanotubes.- Photonic Crystals and Devices.- Nanoparticles and Colloidal Self-assembly.- Nano-building Blocks Fabricated through Templates.- One-dimensional Wurtzite Semiconducting Nanostructures.- Bio-inspired Nanomaterials.- Cryo-Temperature Stages in Nanostructural Research.