Data analysis technique of atomic force microscopy for atomically flat silicon surfaces

Data analysis technique of atomic force microscopy for atomically flat silicon surfaces
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原子平坦硅表面原子力显微镜数据分析技术

DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
IEICE Transaction on Electronics Vol. E92-C, No.5 (to be published)
影响因子：
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通讯作者：
and Tadahiro Ohmi
and Tadahiro Ohmi
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Masahiro Konda;Akinobu Teramoto;Tomoyuki Suwa;Rihito Kuroda;and Tadahiro Ohmi

文献摘要

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