Vth Dependence of Vth Variability in Intrinsic Channel SOI MOSFETs with Ultra-Thin BOX
Vth Dependence of Vth Variability in Intrinsic Channel SOI MOSFETs with Ultra-Thin BOX
复制标题
具有超薄 BOX 的本征通道 SOI MOSFET 中 Vth 变化的 Vth 依赖性
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Hiramoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C.Lee;A.T.Putra;K.Shimizu;T.Hiramoto
