X-ray Pinpoint Structural Measurement for Nanomaterials and Devices at BL40XU of the SPring-8
X-ray Pinpoint Structural Measurement for Nanomaterials and Devices at BL40XU of the SPring-8
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在 SPring-8 的 BL40XU 上对纳米材料和器件进行 X 射线精确结构测量
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Shigeru Kimura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Tamenori;K. Okada;K. Tabayashi;A. Hiraya;T. Gejo and K. Honma;Y. Tamenori;Y. Tamenori;Shigeru Kimura
