Primary ion diffusion charging and particle wall loss in smog chamber experiments
Primary ion diffusion charging and particle wall loss in smog chamber experiments
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烟雾室实验中的初级离子扩散充电和颗粒壁损失
DOI：
10.1080/02786826.2020.1757032
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发表时间：
2020
影响因子：
5.2
通讯作者：
Donahue, Neil M.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Mahfouz, Naser G.;Donahue, Neil M.
在铁氟龙烟雾室实验中研究了一次离子扩散荷电对颗粒壁损失的影响。一次离子损失在壁沉积和扩散充电到较大的颗粒之间平衡;此外，颗粒电荷分布朝向室特定的电荷稳定状态演变，不同于实验室中和器内获得的所谓的“中和器稳定状态”。该腔室电荷稳定状态取决于颗粒尺寸分布，并且达到它的时间尺度通常是数小时。应用典型的室实验条件，我们得出结论，初级离子在颗粒壁损失中起着重要作用，在解释实验时应考虑到这一点。版权所有© 2020美国气溶胶研究协会
We investigate the effect of primary ion diffusion charging on particle wall loss in Teflon smog chamber experiments. Primary ion losses are balanced between wall deposition and diffusion charging to larger particles; further, the particle charge distribution evolves toward a chamber-specific charge steady state, different from the so-called “neutralizer steady state” attained inside laboratory neutralizers. This chamber charge steady state depends on the particle size distribution, and the timescale to reach it is often hours. Applying conditions typical of chamber experiments, we conclude that primary ions play an important role in particle wall loss and should be taken into consideration when interpreting experiments.Copyright © 2020 American Association for Aerosol Research
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影响因子：
5.2
作者：
HOPPEL, WA;FRICK, GM
通讯作者：
FRICK, GM
影响因子：
6.3
作者：
R. Wagner;Chao Yan;K. Lehtipalo;J. Duplissy;T. Nieminen;J. Kangasluoma;L. Ahonen;L. Dada;J. Kontkanen;H. Manninen;A. Dias;A. Amorim;P. Bauer;A. Bergen;Anne-Kathrin Bernhammer;Federico Bianchi-;S. Brilke;S. Mazon;Xuemeng Chen;D. Draper;L. Fischer;C. Frege;C. Fuchs;O. Garmash;H. Gordon;J. Hakala;L. Heikkinen;M. Heinritzi;V. Hofbauer;C. Hoyle;J. Kirkby;A. Kürten;A. Kvashnin;T. Laurila;M. Lawler;H. Mai;V. Makhmutov;R. Mauldin;U. Molteni;L. Nichman;W. Nie;A. Ojdanic;A. Onnela;F. Piel;L. Quéléver;M. Rissanen;N. Sarnela;S. Schallhart;K. Sengupta;M. Simon;D. Stolzenburg;Y. Stozhkov;J. Tröstl;Y. Viisanen;A. Vogel;A. Wagner;M. Xiao;P. Ye;U. Baltensperger;J. Curtius;N. Donahue;R. Flagan;M. Gallagher;A. Hansel;J. Smith;A. Tomé;P. Winkler;D. Worsnop;M. Ehn;M. Sipilä;V. Kerminen;T. Petäjä;M. Kulmala
通讯作者：
R. Wagner;Chao Yan;K. Lehtipalo;J. Duplissy;T. Nieminen;J. Kangasluoma;L. Ahonen;L. Dada;J. Kontkanen;H. Manninen;A. Dias;A. Amorim;P. Bauer;A. Bergen;Anne-Kathrin Bernhammer;Federico Bianchi-;S. Brilke;S. Mazon;Xuemeng Chen;D. Draper;L. Fischer;C. Frege;C. Fuchs;O. Garmash;H. Gordon;J. Hakala;L. Heikkinen;M. Heinritzi;V. Hofbauer;C. Hoyle;J. Kirkby;A. Kürten;A. Kvashnin;T. Laurila;M. Lawler;H. Mai;V. Makhmutov;R. Mauldin;U. Molteni;L. Nichman;W. Nie;A. Ojdanic;A. Onnela;F. Piel;L. Quéléver;M. Rissanen;N. Sarnela;S. Schallhart;K. Sengupta;M. Simon;D. Stolzenburg;Y. Stozhkov;J. Tröstl;Y. Viisanen;A. Vogel;A. Wagner;M. Xiao;P. Ye;U. Baltensperger;J. Curtius;N. Donahue;R. Flagan;M. Gallagher;A. Hansel;J. Smith;A. Tomé;P. Winkler;D. Worsnop;M. Ehn;M. Sipilä;V. Kerminen;T. Petäjä;M. Kulmala
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影响因子：
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作者：
Gonser;Birmili;Größ;Kulmala;Manninen;Wiedensohler
通讯作者：
Wiedensohler
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5.2
作者：
Sunol, A. M.;Charan, S. M.;Seinfeld, J. H.
通讯作者：
Seinfeld, J. H.
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DOI：
--
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
作者：
X. López;R. Flagan
通讯作者：
R. Flagan