Koji AIZAWA, Hiroshi ISHIWARA: "Evaluation of ferroelectric/silicon interface state density in ferroelectric-gate transistors using a charge pumping method"Ferroelectrics. (in press). (2003)
Koji AIZAWA, Hiroshi ISHIWARA: "Evaluation of ferroelectric/silicon interface state density in ferroelectric-gate transistors using a charge pumping method"Ferroelectrics. (in press). (2003)
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Koji AIZAWA、Hiroshi ISHIWARA：“使用电荷泵方法评估铁电栅极晶体管中的铁电/硅界面态密度”铁电体。
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