nanowhireFETsにおける相互コンダクタンスの熱酸化起因歪依存性評価(1)
nanowhireFETsにおける相互コンダクタンスの熱酸化起因歪依存性評価(1)
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纳米线 FET 中热氧化引起的互导应变依赖性的评估 (1)
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
大泊 巌
中科院分区：
文献类型：
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作者：
清家 綾;大泊 巌
