Local electronic structure analysis using a photoelectron emission microscope (PEEM) with hard X-ray
Local electronic structure analysis using a photoelectron emission microscope (PEEM) with hard X-ray
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使用硬 X 射线光电子发射显微镜 (PEEM) 进行局部电子结构分析
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Maruyama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Kotsugi;T. Wakita;T. Taniuchi;K. Ono;M. Suzuki;N. Kawamura;M. Takagaki;M. Taniguchi;K. Kobayashi;M. Oshima;N. Ishimatsu;H. Maruyama
