解剖学的特徴点を用いたレジストレーションにおける皮下組織厚に依存する誤差計測
解剖学的特徴点を用いたレジストレーションにおける皮下組織厚に依存する誤差計測
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使用解剖特征点进行配准时，误差测量取决于皮下组织厚度
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
伊関洋
中科院分区：
文献类型：
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作者：
坂本怜;植松美幸;中野喜隆;許家群;梅津光生;飯村浩;青見茂之;中村亮一;鈴木孝司;村垣善浩;伊関洋
