T.Tsuji and K.Yamanaka: "Detection of The Nano-scale Subsurface Defects by Ultrasonic Atomic Force Microscopy in Nondestructive Characterization of Materials IX"American Institute of Physics. (2001)
T.Tsuji and K.Yamanaka: "Detection of The Nano-scale Subsurface Defects by Ultrasonic Atomic Force Microscopy in Nondestructive Characterization of Materials IX"American Institute of Physics. (2001)
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T.Tsuji 和 K.Yamanaka：“通过超声波原子力显微镜在材料无损表征中检测纳米级次表面缺陷 IX”美国物理研究所。
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