Tomoya Ogawa: ""Defect Recognition and Image Processing"ed.Fillard" ELSEVIER,Amsterdam,The Netherlands,306 ((1985))
Tomoya Ogawa: ""Defect Recognition and Image Processing"ed.Fillard" ELSEVIER,Amsterdam,The Netherlands,306 ((1985))
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Tomoya Okawa：““缺陷识别和图像处理”ed.Fillard” ELSEVIER，阿姆斯特丹，荷兰，306 ((1985))
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