Investigations of Local Electrical Properties of Pentacene Thin Films by Dual-Probe Atomic Force Microscopy
Investigations of Local Electrical Properties of Pentacene Thin Films by Dual-Probe Atomic Force Microscopy
复制标题
双探针原子力显微镜研究并五苯薄膜的局部电学性质
DOI：
--
复制
发表时间：
2010
影响因子：
1.5
通讯作者：
K.Matsushige
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
M.Hirose;E.Tsunemi;K.Kobayashi;H.Yamada;K.Matsushige
