Characerization of Strain for High Performanced Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor
Characerization of Strain for High Performanced Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor
复制标题
高性能金属氧化物半导体场效应晶体管的应变表征
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Daisuke Kosemura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
小手川恒;正木了;他4名;Daisuke Kosemura
