Empirical Electronic Polarizabilities for Use in Refractive Index Measurements III. Structures with Short [5]Ti–O and Vanadyl Bonds
Empirical Electronic Polarizabilities for Use in Refractive Index Measurements III. Structures with Short [5]Ti–O and Vanadyl Bonds
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用于具有短 [5]TiâO 和氧钒基键的折射率测量 III 结构的经验电子极化率
DOI：
10.3749/canmin.2000046
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Fischer
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shannon;Fischer
