Evaluation of AlGaInP LEDs reliability based on accelerated tests
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DOI：
10.1016/j.microrel.2009.06.031
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发表时间：
2009-09
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
E. Nogueira;M. Vázquez;N. Núñez
中科院分区：
文献类型：
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作者：
E. Nogueira;M. Vázquez;N. Núñez
