"Force and Tunneling Current Measurements on the Semiconductor Surface" 2nd Global COE International Symposium-Electronic Devices Innovation - EDIS2009-
"Force and Tunneling Current Measurements on the Semiconductor Surface" 2nd Global COE International Symposium-Electronic Devices Innovation - EDIS2009-
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“半导体表面的力和隧道电流测量”第二届全球COE国际研讨会-电子器件创新-EDIS2009-
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Morita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D. Sawada;Y. Sugimoto;K. Morita;M. Abe;S. Morita
