Yi-Ming Xiong: "Buit-in electric Field Strength in InP/n+-InP Determined by Phtoellipsometry and Photoreflectance"1996 Int. Conf. SSDM. 724-726 (1996)
Yi-Ming Xiong: "Buit-in electric Field Strength in InP/n+-InP Determined by Phtoellipsometry and Photoreflectance"1996 Int. Conf. SSDM. 724-726 (1996)
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熊一鸣：“通过偏振椭圆光度法和光反射法测定 InP/n -InP 中的内置电场强度”1996 Int。
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