A.Asano: "Dependence of interface states for ultrathin SiO_2/Si interfaces on the oxide atomic density determined from FTIR measurements"Surf. Sci.. 427-428. 219 (1999)
A.Asano: "Dependence of interface states for ultrathin SiO_2/Si interfaces on the oxide atomic density determined from FTIR measurements"Surf. Sci.. 427-428. 219 (1999)
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A.Asano：“超薄 SiO_2/Si 界面的界面态对 FTIR 测量确定的氧化物原子密度的依赖性”Surf。
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