高橋郁, 鶴田, 椛田, 山本, 鈴木: "半導体ウェハー上の不良パターンのクラスタリングによる分類と要因分析"品質管理学会第66回研究発表会. 77-80 (2001)
高橋郁, 鶴田, 椛田, 山本, 鈴木: "半導体ウェハー上の不良パターンのクラスタリングによる分類と要因分析"品質管理学会第66回研究発表会. 77-80 (2001)
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Ik. Takahashi、Tsuruta、Kabata、Yamamoto、Suzuki：“通过半导体晶圆上缺陷图案的聚类进行分类和因子分析”，质量控制协会第 66 届研究会议（2001 年）。
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