A Study on Test Pattern Generation for LSI Tests Using Chaotic Sequences

A Study on Test Pattern Generation for LSI Tests Using Chaotic Sequences
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利用混沌序列生成LSI测试测试模式的研究

DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
Proc. of 2006 International Tech. Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications Vol. II
影响因子：
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通讯作者：
Akio Tsuneda
Akio Tsuneda
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
関 亜紀子;亀山 渉;Akio Tsuneda;Akio Tsuneda;Akio Tsuneda;Akio Tsuneda

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