Gate Effects of Vacancy-type Defects on Metal Migrations from Metallofullerenes

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空位型缺陷对金属富勒烯金属迁移的门效应

DOI:
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发表时间:
2006
期刊:
Nano Letters 6
影响因子:
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通讯作者:
T. et al.
T. et al.
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Yumura;T. et al.

文献摘要

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