Masao Doyama: "Non-Destructive Testing of Silicon Single Crystals by Positron Annihilation" Proceedings of 8th International Conference on Positron Annihilation,Gent,1988(World Scientific,Singapore). 699-701 (1989)
Masao Doyama: "Non-Destructive Testing of Silicon Single Crystals by Positron Annihilation" Proceedings of 8th International Conference on Positron Annihilation,Gent,1988(World Scientific,Singapore). 699-701 (1989)
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Masao Doyama：“通过正电子湮灭对硅单晶进行非破坏性测试”第八届正电子湮灭国际会议论文集，根特，1988（世界科学出版社，新加坡）。
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