箕島 弘二: "Si単結晶マイクロエレメントの破壊・疲労強度特性とナノスコピック損傷評価"電気学会研究会資料マイクロマシン・センサシステム研究会. 35-38 (2003)
箕島 弘二: "Si単結晶マイクロエレメントの破壊・疲労強度特性とナノスコピック損傷評価"電気学会研究会資料マイクロマシン・センサシステム研究会. 35-38 (2003)
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Koji Minoshima：“Si单晶微元件的断裂/疲劳强度特性和纳米损伤评估”日本电气工程师学会材料微机械和传感器系统研究组35-38（2003）。
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