A Measurement of Ratio-less 12-transistor SRAM cell Operation at Ultra-low Supply-voltage
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超低电源电压下无比率 12 晶体管 SRAM 单元操作的测量
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Nakamura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Kondo;H. Yamamoto;H. Imi;H. Okamura;K. Nakamura
