Development of micro magnetic field probe to evaluate near field on RFIC chip
Development of micro magnetic field probe to evaluate near field on RFIC chip
复制标题
开发微磁场探针来评估 RFIC 芯片上的近场
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Sho Muroga
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yasushi Endo;Masahiro Yamaguchi;Yojiro Shigeta;Masaki Onishi;Kaoru Arai;Sho Muroga
