Scan FF Reordering for Test Volume Reduction in Chiba-Scan Architecture

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扫描 FF 重新排序以减少 Chiba-Scan 架构中的测试量

DOI:
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发表时间:
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期刊:
IPSJ Trans.Syst.LSI Des.Method 掲載予定
影响因子:
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通讯作者:
H.Ito
H.Ito
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
K.Matsumoto;K.Namba;H.Ito

文献摘要

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