Thickness Dependence of Electronic and Crystal Structures in VO2 Ultrathin Films
Thickness Dependence of Electronic and Crystal Structures in VO2 Ultrathin Films
复制标题
VO2 超薄膜中电子和晶体结构的厚度依赖性
DOI：
--
复制
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Hiroshi Kumigashira
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Daisuke Shiga;Billy Eric Yang;Naoto Hasegawa;Tatsuhiko Kanda;Ryosuke Tokunaga;Kohei Yoshimatsu;Ryu Yukawa;Miho Kitamura;Koji Horiba;Hiroshi Kumigashira
