Study on Temperature Imaging Technique for CNT Light Emitter using Fluorescence Lifetime in Near-field
Study on Temperature Imaging Technique for CNT Light Emitter using Fluorescence Lifetime in Near-field
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利用近场荧光寿命的碳纳米管发光体温度成像技术研究
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Nishio;S.;Taguchi;Y.;Maki;H.;Saiki;T. and Nagasaka;Y.
