Corrosion failure due to flux residues in an electronic add-on device
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DOI：
10.1016/j.engfailanal.2010.02.010
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发表时间：
2010-09
影响因子：
4
通讯作者：
M. Jellesen;Daniel Minzari;U. Rathinavelu;P. Møller;R. Ambat
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Jellesen;Daniel Minzari;U. Rathinavelu;P. Møller;R. Ambat
