An SBV relaxation of the Cross-Newell energy for modeling stripe patterns and their defects
An SBV relaxation of the Cross-Newell energy for modeling stripe patterns and their defects
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用于建模条纹图案及其缺陷的 Cross-Newell 能量的 SBV 松弛
DOI：
10.3934/dcdss.2022101
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Venkataramani, Shankar C.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Venkataramani, Shankar C.
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DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
Chiqun Zhang;Xiaohan Zhang;A. Acharya;D. Golovaty;N. Walkington
通讯作者：
N. Walkington
与叶状结构相关的有序介质和规范场缺陷理论的某些方面
DOI：
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发表时间：
1981
期刊：
影响因子：
--
作者：
V. Poénaru
通讯作者：
V. Poénaru
影响因子：
2.4
作者：
Thomas Machon;H. Aharoni;Yichen Hu;R. Kamien
通讯作者：
R. Kamien
DOI：
10.1017/s030821050000113x
发表时间：
2001-01-01
影响因子：
1.3
作者：
DeSimone, A;Müller, S;Otto, F
通讯作者：
Otto, F
多值字段
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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作者：
H. Kleinert
通讯作者：
H. Kleinert