耐高温硅隔离压阻力敏芯片的研究

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DOI:
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发表时间:
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期刊:
西安交通大学学报
影响因子:
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通讯作者:
蒋庄德
蒋庄德
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
赵立波;赵玉龙;方续东;李建波;李勇;蒋庄德

文献摘要

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