Si基板上エピタキシャルBaSi2薄膜における欠陥導入による低熱伝導率化

Si基板上エピタキシャルBaSi2薄膜における欠陥導入による低熱伝導率化
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Si 衬底上的外延 BaSi2 薄膜中引入了缺陷,导致热导率降低

DOI:
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发表时间:
2022
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
中村 芳明
中村 芳明
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
石部 貴史;谷内 卓;山下 雄大;佐藤 拓磨;末益 崇;中村 芳明

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