Thickness Dependence of Critical Current of Superfluid ^3He Film
Thickness Dependence of Critical Current of Superfluid ^3He Film
复制标题
超流体^3He薄膜临界电流的厚度依赖性
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Saitoh and K. Kono
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Hashimoto;T.Yamagishi;S.Katsumoto and Y.Iye;長田 博文;上山大信;M. Saitoh and K. Kono
