シンクロトロンX線反射率測定による液/液界面ギブズ膜の構造解析
シンクロトロンX線反射率測定による液/液界面ギブズ膜の構造解析
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使用同步加速器 X 射线反射率测量对液/液界面吉布斯薄膜进行结构分析
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
瀧上隆智
中科院分区：
文献类型：
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作者：
竹内亮;野澤桂一郎;東海林敦;菅原正雄;瀧上隆智
