RTNを考慮したSRAM不良確率の高速計算, 電子情報通信学会技術研究報告
RTNを考慮したSRAM不良確率の高速計算, 電子情報通信学会技術研究報告
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考虑RTN、IEICE技术研究报告的SRAM失效概率高速计算
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
佐藤 高史
中科院分区：
文献类型：
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作者：
粟野 皓光;廣本 正之;佐藤 高史
