Ⅲ-Ⅴ族化合物半導体のアノードエッチング

Ⅲ-Ⅴ族化合物半導体のアノードエッチング
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III-V族化合物半导体的阳极蚀刻

DOI:
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发表时间:
2018
期刊:
表面技術
影响因子:
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通讯作者:
阿相英孝,小野幸子
阿相英孝,小野幸子
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Hayakawa K.;Nakamura T.;阿相英孝,小野幸子

文献摘要

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