J-PARCにおけるミュオニウム超微細構造精密測定のためのシンチレーションファイバーとSiPMを用いた陽電子検出器開発

J-PARCにおけるミュオニウム超微細構造精密測定のためのシンチレーションファイバーとSiPMを用いた陽電子検出器開発
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J-PARC 开发使用闪烁光纤和 SiPM 的正电子探测器,用于精确测量μ超细结构

DOI:
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发表时间:
2020
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
下村浩一郎,他MuSEUM Collaboration,
下村浩一郎,他MuSEUM Collaboration,
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
多田紘規;下村浩一郎,他MuSEUM Collaboration,

文献摘要

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