S. Nakashima, et al: "Structure Analysis of Semiconductor Surfaces and Films by Raman Scattering Technique" In. J. Engng. Sci. 29. 381-389 (1991)
S. Nakashima, et al: "Structure Analysis of Semiconductor Surfaces and Films by Raman Scattering Technique" In. J. Engng. Sci. 29. 381-389 (1991)
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S. Nakashima 等人：“通过拉曼散射技术对半导体表面和薄膜进行结构分析”。
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