Quantum metrology
Quantum metrology
复制标题
量子计量学
DOI：
10.1103/physrevlett.96.010401
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发表时间：
2006-01-13
影响因子：
8.6
通讯作者：
Maccone, L
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Giovannetti, V;Lloyd, S;Maccone, L
我们指出了一个一般的框架，包括大多数情况下，量子效应使精度的增加时，估计参数（量子计量学）。典型的量子精度提高是系统被采样次数的平方根的数量级。我们证明，这是最佳的，我们指出不同的策略（经典和量子），允许一个达到这个界限。
We point out a general framework that encompasses most cases in which quantum effects enable an increase in precision when estimating a parameter (quantum metrology). The typical quantum precision enhancement is of the order of the square root of the number of times the system is sampled. We prove that this is optimal, and we point out the different strategies (classical and quantum) that permit one to attain this bound.