EBIC imaging using scanning transmission electron microscopy : experiment and analysis

EBIC imaging using scanning transmission electron microscopy : experiment and analysis
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使用扫描透射电子显微镜进行 EBIC 成像:实验与分析

DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
Journal of Materials Science-Materials in Electronics 19
影响因子:
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通讯作者:
M.Yamaguchi
M.Yamaguchi
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
S.Tanaka;H.Tanaka;T.Kawasaki;M.Ichihashi;T.Tanji;K.Arafune;Y.Ohshita;M.Yamaguchi

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