Diagnostics of Ionospheric Field Aligned Irregularities (FAIs) Using "Patchy" Specularly Reflected (SR) Whistler-Mode Echoes Observed on IMAGE
Diagnostics of Ionospheric Field Aligned Irregularities (FAIs) Using "Patchy" Specularly Reflected (SR) Whistler-Mode Echoes Observed on IMAGE
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使用图像上观察到的“片状”镜面反射 (SR) 惠斯勒模式回波诊断电离层场对准不规则性 (FAI)
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Sonwalkar, Vikas S
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Reddy, Amani;Sonwalkar, Vikas S
