低電圧駆動有機電界効果トランジスタメモリにおけるホールトラップ容量の解析
低電圧駆動有機電界効果トランジスタメモリにおけるホールトラップ容量の解析
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低压驱动有机场效应晶体管存储器中的空穴陷阱电容分析
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
村田英幸
中科院分区：
文献类型：
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作者：
阿部泰之;酒井平祐;村田英幸
