スピン偏極陽電子ビームによるイオン照射窒化ガリウム薄膜の空孔局在電子スピンの検出
スピン偏極陽電子ビームによるイオン照射窒化ガリウム薄膜の空孔局在電子スピンの検出
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使用自旋极化正电子束检测离子辐照氮化镓薄膜中的空位局域电子自旋
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
河裾厚男
中科院分区：
文献类型：
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作者：
前川雅樹;境誠司;和田健;宮下敦巳;河裾厚男
