Toyoaki Eguchi: "High Resolution Atomic Force Microscopic Imaging of the Si(111)-(7x7) Surface : Contribution of Short-Range Force to the Images"Physical Review Letters. 89・26. 266105-1-266105-4 (2002)
Toyoaki Eguchi: "High Resolution Atomic Force Microscopic Imaging of the Si(111)-(7x7) Surface : Contribution of Short-Range Force to the Images"Physical Review Letters. 89・26. 266105-1-266105-4 (2002)
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Toyoaki Eguchi：“Si(111)-(7x7) 表面的高分辨率原子力显微成像：短程力对图像的贡献”物理评论快报 89・26 (2002)。
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